[1] A. A. Liu, L. Lin, Y. Lin, and Y. Guo, J. Phys. Chem. C 117, 1392(2013). doi:  10.1021/jp310569v
[2] I. Fromondi, H. F. Zhu, Z. G. Feng, and D. Scherson, J. Phys. Chem. C 118, 27901(2014). doi:  10.1021/jp5089993
[3] M. A. Polizzi, R. M. Plocinik, and G. J. Simpson, J. Am. Chem. Soc. 126, 5001(2004). doi:  10.1021/ja031627v
[4] P. Hayes, A. G. Taylor, J. A. Levitt, and C. P. Wilde, Electrochem. Commun. 5, 883(2003). doi:  10.1016/j.elecom.2003.08.014
[5] C. Ohlhoff, G. Lpke, C. Meyer, and H. Kurz, Phys. Rev. B 55, 4596(1997). doi:  10.1103/PhysRevB.55.4596
[6] J. L. Daschbach, P. R. Fischer, D. E. Gragson, and G. L. Richmond, J. Phys. Chem. 99, 3240(1995). doi:  10.1021/j100010a040
[7] H. Park, J. B. Qi, Y. Xu, G. Lpke, and N. Tolk, J. Opt. 13, 055202(2011). doi:  10.1088/2040-8978/13/5/055202
[8] O. A. Aktsipetrov, I. M. Baranova, L. V. Grigor'eva, K. N. Evtyukhov, E. D. Mishina, T. V. Murzina, and I. V. Chernyǐ, Sov. J. Quantum Electron. 21, 854(1991). doi:  10.1070/QE1991v021n08ABEH003971
[9] K. Pedersen, T. B. Kristensen, T. G. Pedersen, T. Jensen, P. Morgen, Z. S. Li, and S. V. Hoffmann, Surf. Sci. 523, 21(2003). doi:  10.1016/S0039-6028(02)02348-8
[10] H. U. Ulriksen and K. Pedersen, J. Appl. Phys. 120, 235307(2016). doi:  10.1063/1.4972190
[11] A. Alejo-Molina, H. Hardhienata, P. A. MárquezAguilar, and K. Hingerl, J. Opt. Soc. Am. B 34, 1107(2017). doi:  10.1364/JOSAB.34.001107
[12] Y. Rao, Y. S. Tao, and H. F. Wang, J. Chem. Phys. 119, 5226(2003). doi:  10.1063/1.1597195
[13] W. K. Zhang, D. S. Zheng, Y. Y. Xu, H. T. Bian, Y. Guo, and H. F. Wang, J. Chem. Phys. 123, 224713(2005). doi:  10.1063/1.2136875
[14] C. H. Lee, R. K. Chang, and N. Bloembergen, Phys. Rev. Lett. 18, 167(1967). doi:  10.1103/PhysRevLett.18.167
[15] H. T. Bian, Y. Guo, and H. F. Wang, Phys. Chem. Chem. Phys. 20, 29539(2018). doi:  10.1039/C8CP05621H
[16] P. E. Ohno, S. A. Saslow, H. F. Wang, F. M. Geiger, and K. B. Eisenthal, Nat. Commun. 7, 13587(2016). doi:  10.1038/ncomms13587
[17] S. A. Mitchell, R. Boukherroub, and S. Anderson, J. Phys. Chem. B 104, 7668(2000). doi:  10.1021/jp000450d
[18] D. Bodlaki and E. Borguet, J. Appl. Phys. 95, 4675(2004). doi:  10.1063/1.1664024
[19] H. W. K. Tom, T. F. Heinz, and Y. R. Shen, Phys. Rev. Lett. 51, 1983(1983). doi:  10.1103/PhysRevLett.51.1983
[20] J. O. M. Bockris and A. K. N. Reddy, Modern Electrochemistry, 2nd Edn., New York: Kluwer Academic Publishing, (2002).
[21] V. Lehmann, Electrochemistry of Silicon: Instrumentation, Science, Materials and Applications, Berlin: Wiley-VCH Verlag GmbH, (2002).
[22] J. M. Lantz and R. M. Corn, J. Phys. Chem. 98, 4899(1994). doi:  10.1021/j100069a022
[23] J. M. Lantz and R. M. Corn, J. Phys. Chem. 98, 9387(1994). doi:  10.1021/j100089a005
[24] W. Cai, Z. Lin, T. Strother, L. M. Smith, and R. J. Hamers, J. Phys. Chem. B 106, 2656(2002). doi:  10.1021/jp013523h
[25] J. M. Lantz, R. Baba, and R. M. Corn, J. Phys. Chem. 97, 7392(1993). doi:  10.1021/j100131a004
[26] J. L. Fiore, V. V. Fomenko, D. Bodlaki, and E. Borguet, Appl. Phys. Lett. 98, 041905(2011). doi:  10.1063/1.3505356
[27] W. K. Zhang, H. F. Wang, and D. S. Zheng, Phys. Chem. Chem. Phys. 8, 4041(2006). doi:  10.1039/b608005g
[28] Q. S. Wei, D. X. Zhou, and H. T. Bian, Phys. Chem. Chem. Phys. 20, 11758(2018). doi:  10.1039/C8CP00099A