[1] |
A. A. Liu, L. Lin, Y. Lin, and Y. Guo, J. Phys. Chem. C 117, 1392(2013). doi: 10.1021/jp310569v |
[2] |
I. Fromondi, H. F. Zhu, Z. G. Feng, and D. Scherson, J. Phys. Chem. C 118, 27901(2014). doi: 10.1021/jp5089993 |
[3] |
M. A. Polizzi, R. M. Plocinik, and G. J. Simpson, J. Am. Chem. Soc. 126, 5001(2004). doi: 10.1021/ja031627v |
[4] |
P. Hayes, A. G. Taylor, J. A. Levitt, and C. P. Wilde, Electrochem. Commun. 5, 883(2003). doi: 10.1016/j.elecom.2003.08.014 |
[5] |
C. Ohlhoff, G. Lpke, C. Meyer, and H. Kurz, Phys. Rev. B 55, 4596(1997). doi: 10.1103/PhysRevB.55.4596 |
[6] |
J. L. Daschbach, P. R. Fischer, D. E. Gragson, and G. L. Richmond, J. Phys. Chem. 99, 3240(1995). doi: 10.1021/j100010a040 |
[7] |
H. Park, J. B. Qi, Y. Xu, G. Lpke, and N. Tolk, J. Opt. 13, 055202(2011). doi: 10.1088/2040-8978/13/5/055202 |
[8] |
O. A. Aktsipetrov, I. M. Baranova, L. V. Grigor'eva, K. N. Evtyukhov, E. D. Mishina, T. V. Murzina, and I. V. Chernyǐ, Sov. J. Quantum Electron. 21, 854(1991). doi: 10.1070/QE1991v021n08ABEH003971 |
[9] |
K. Pedersen, T. B. Kristensen, T. G. Pedersen, T. Jensen, P. Morgen, Z. S. Li, and S. V. Hoffmann, Surf. Sci. 523, 21(2003). doi: 10.1016/S0039-6028(02)02348-8 |
[10] |
H. U. Ulriksen and K. Pedersen, J. Appl. Phys. 120, 235307(2016). doi: 10.1063/1.4972190 |
[11] |
A. Alejo-Molina, H. Hardhienata, P. A. MárquezAguilar, and K. Hingerl, J. Opt. Soc. Am. B 34, 1107(2017). doi: 10.1364/JOSAB.34.001107 |
[12] |
Y. Rao, Y. S. Tao, and H. F. Wang, J. Chem. Phys. 119, 5226(2003). doi: 10.1063/1.1597195 |
[13] |
W. K. Zhang, D. S. Zheng, Y. Y. Xu, H. T. Bian, Y. Guo, and H. F. Wang, J. Chem. Phys. 123, 224713(2005). doi: 10.1063/1.2136875 |
[14] |
C. H. Lee, R. K. Chang, and N. Bloembergen, Phys. Rev. Lett. 18, 167(1967). doi: 10.1103/PhysRevLett.18.167 |
[15] |
H. T. Bian, Y. Guo, and H. F. Wang, Phys. Chem. Chem. Phys. 20, 29539(2018). doi: 10.1039/C8CP05621H |
[16] |
P. E. Ohno, S. A. Saslow, H. F. Wang, F. M. Geiger, and K. B. Eisenthal, Nat. Commun. 7, 13587(2016). doi: 10.1038/ncomms13587 |
[17] |
S. A. Mitchell, R. Boukherroub, and S. Anderson, J. Phys. Chem. B 104, 7668(2000). doi: 10.1021/jp000450d |
[18] |
D. Bodlaki and E. Borguet, J. Appl. Phys. 95, 4675(2004). doi: 10.1063/1.1664024 |
[19] |
H. W. K. Tom, T. F. Heinz, and Y. R. Shen, Phys. Rev. Lett. 51, 1983(1983). doi: 10.1103/PhysRevLett.51.1983 |
[20] |
J. O. M. Bockris and A. K. N. Reddy, Modern Electrochemistry, 2nd Edn., New York: Kluwer Academic Publishing, (2002). |
[21] |
V. Lehmann, Electrochemistry of Silicon: Instrumentation, Science, Materials and Applications, Berlin: Wiley-VCH Verlag GmbH, (2002). |
[22] |
J. M. Lantz and R. M. Corn, J. Phys. Chem. 98, 4899(1994). doi: 10.1021/j100069a022 |
[23] |
J. M. Lantz and R. M. Corn, J. Phys. Chem. 98, 9387(1994). doi: 10.1021/j100089a005 |
[24] |
W. Cai, Z. Lin, T. Strother, L. M. Smith, and R. J. Hamers, J. Phys. Chem. B 106, 2656(2002). doi: 10.1021/jp013523h |
[25] |
J. M. Lantz, R. Baba, and R. M. Corn, J. Phys. Chem. 97, 7392(1993). doi: 10.1021/j100131a004 |
[26] |
J. L. Fiore, V. V. Fomenko, D. Bodlaki, and E. Borguet, Appl. Phys. Lett. 98, 041905(2011). doi: 10.1063/1.3505356 |
[27] |
W. K. Zhang, H. F. Wang, and D. S. Zheng, Phys. Chem. Chem. Phys. 8, 4041(2006). doi: 10.1039/b608005g |
[28] |
Q. S. Wei, D. X. Zhou, and H. T. Bian, Phys. Chem. Chem. Phys. 20, 11758(2018). doi: 10.1039/C8CP00099A |